Ученые «Сколтеха» разработали метод точного определения пористости волокнистых материалов по одному снимку
Исследователи из Лаборатории иерархически структурированных материалов Центра системного проектирования «Сколтеха»...
Домой / Новости / Ученые «Сколтеха» разработали метод точного определения пористости волокнистых материалов по одному снимку
Tags News
Про Редактор Новостей
Проверьте также
Sony отметила юбилей серии наушников 1000X выпуском премиальных 1000X THE COLLEXION
Новинка не только станет отличным напоминанием о 10-летнем развитии 1000X, но и займёт место премиального продукта среди наушников Sony. Сама компания описывает их как «сфокусированные на изысканном дизайне, новом уровне комфорта и максимальных впечатлениях от прослушивания». Относительно дизайна 1000X THE COLLEXION предлагают металлическое изголовье с пескоструйной текстурой, которое на заводе кто-то вручную отполировал. Ну так […]